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您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）中的“潛在缺陷 環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)中的“潛在缺陷”是啥？
環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)是通過(guò)向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，將其內(nèi)部的“潛在缺陷”激發(fā)成為故障，并通過(guò)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)和排除的過(guò)程，是一種工藝手段。在制定ESS方案前，首先應(yīng)研究產(chǎn)品缺陷，即研究產(chǎn)品缺陷是開(kāi)展ESS的前提。根據(jù)缺陷特點(diǎn)，可將產(chǎn)品缺陷按以下方式分類(lèi)：
1．按引入缺陷的源頭分類(lèi)，可分為設(shè)計(jì)缺陷、生產(chǎn)缺陷、元器件及原材料缺陷。
2．按可檢測(cè)程度分類(lèi)，可分為明顯缺陷與潛在缺陷。
3．按ESS效果分類(lèi)，可分為ESS能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷、ESS不能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷。
下表給出了ESS與“潛在缺陷”的關(guān)系。
缺陷分類(lèi) | 元器件缺陷 | 設(shè)計(jì)缺陷 | 生產(chǎn)缺陷 | ESS作用 | 發(fā)現(xiàn)缺陷手段 | |
明顯缺陷 | 可能導(dǎo)致故障的缺陷 | 可檢測(cè)出 | 可檢測(cè)出 | 可檢測(cè)出 | 能激發(fā) | 檢驗(yàn) |
不能導(dǎo)致故障的缺陷 | 可檢測(cè)出 | 可檢測(cè)出 | 可檢測(cè)出 | 不能激發(fā) | 檢驗(yàn) | |
潛在缺陷 | 可能導(dǎo)致故障的缺陷 | 不能測(cè)出 | 不能測(cè)出 | 不能測(cè)出 | 能激發(fā) | ESS |
不能導(dǎo)致故障的缺陷 | 不能測(cè)出 | 不能測(cè)出 | 不能測(cè)出 | 不能激發(fā) | —— | |
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